JM four point probe
головка с 4-мя иглами для контакта с поверхностью полупроводника

| Название | Описание | Производитель | Количество | Срок поставки | Кратность заказа | Цена (бел.руб.) | Заказать |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| JM four point probe | головка с 4-мя иглами для контакта с поверхностью полупроводника | 1 шт. | склад | 1 |
запрос цены |

